半导体行业复叠式老化测试系统型号
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型号
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UFL-8014C
WxHxD（mm）
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UFL-8024C
WxHxD（mm）
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UFL-8034C
WxHxD（mm）
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内部尺寸
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400X400X660
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400X400X660
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400X400X660
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外部尺寸
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1250X810X1000
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1250X1310X1000
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1250X1810X1000
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半导体行业复叠式老化测试系统温度、湿度、环境参数
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温度范围
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常温+5℃~150℃
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环境湿度
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≤65%H
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温度解析度
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0.01℃
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温度控制精度
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±1.5℃
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波动度
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≤±0.5℃
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测试时间和间隔
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≥6000hrs,每隔1000小时采集一次数据，建议初始会测试数据频率密集（0,24,48,120,480,1000……）
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条件
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Case的温度TS=55℃,85℃,T3rd(在规定外用户自选温度)
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环境的温度TA
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Ta≥Ts-5℃测试距Case正上方1.5mm空气中温度
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内箱风速
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＜0.3m/s
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测试容量
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根据客户产品尺寸及功率大小不同，测试容量不同
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半导体行业复叠式老化测试系统数据采集、远程监控参数
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采集器配备
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采用YOKOGAWA MW100数据采集器，根据机器选型的不同可分别配置20、30、40、60通道的采集器（也可根据客户要求配备）
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高速测量
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10ch/1s,60ch/1s(1个主单元内)高速测量：最短测控周期为1ms
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多测量周期
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一个主单元可以混合三种测试周期，最大可支持2G的CF卡，（在60ch/100 ms时可连续采集数据约10天，60ch/1s时可连续采集约3个月）
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采集器特点
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MW100本体带有开/关按钮，既可独立采集数据，也可以利用以太网和浏览器软件在PC上进行实时监视，通过网络采集数据，MW100r数据输入输出范围广，可支持高速测量，同时具有很强的抗干扰性，即使在恶劣环境中也可以完成测量工作。
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采集时间分辨率
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10ms~500ms
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电源参数
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通道数
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标配40通道（选配最大可达1000个）
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电流量程
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0-1A,0-10A,0-20A以上
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通道间连接方式
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通道间可以并联以增大电流
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老化电流精度
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老化测试时输入电流应控制在额定电流的±3%
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测试电流精度
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光学测试时输入电流应控制在额定电流的±0.5%
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电压表参数
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电压量程
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0-150V(选配可达40V)
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分辨率
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0.1V
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设备特点
湿度显示：能够做到Ts,Ta温度及湿度实时显示功能。
TS制：能够精准控制每一颗LED灯珠的TS。
TA制：能够精准控制周围空气温度Ta，并满足LM-80的TA不低于TS-5℃
温度测试：在厂家指定位置TS的情况下，能够对每一颗LED灯珠的壳温度进行在线实时监测。
远程监测：能够对每一颗LED灯珠的TS,TA进行在线实时监测，并且传输给远程电脑，做到数据同步和备份。
电流控制：每一颗LED灯珠由独立恒流电流源供电，可单独控制输出电流值，并满足LM-80的±3%的偏差要求。
时间采集：对于每一组LED灯珠被点亮的老化时间精确采集，并且符合LM-80老化时间±0.5%的偏差要求。