半導體行業復疊式老化測試系統型號
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型號
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UFL-8014C
WxHxD（mm）
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UFL-8024C
WxHxD（mm）
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UFL-8034C
WxHxD（mm）
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內部尺寸
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400X400X660
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400X400X660
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400X400X660
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外部尺寸
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1250X810X1000
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1250X1310X1000
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1250X1810X1000
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半導體行業復疊式老化測試系統溫度、濕度、環境參數
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溫度范圍
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常溫+5℃~150℃
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環境濕度
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≤65%H
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溫度解析度
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0.01℃
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溫度控制精度
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±1.5℃
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波動度
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≤±0.5℃
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測試時間和間隔
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≥6000hrs,每隔1000小時采集一次數據，建議初始會測試數據頻率密集（0,24,48,120,480,1000……）
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條件
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Case的溫度TS=55℃,85℃,T3rd(在規定外用戶自選溫度)
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環境的溫度TA
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Ta≥Ts-5℃測試距Case正上方1.5mm空氣中溫度
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內箱風速
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＜0.3m/s
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測試容量
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根據客戶產品尺寸及功率大小不同，測試容量不同
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半導體行業復疊式老化測試系統數據采集、遠程監控參數
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采集器配備
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采用YOKOGAWA MW100數據采集器，根據機器選型的不同可分別配置20、30、40、60通道的采集器（也可根據客戶要求配備）
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高速測量
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10ch/1s,60ch/1s(1個主單元內)高速測量：最短測控周期為1ms
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多測量周期
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一個主單元可以混合三種測試周期，最大可支持2G的CF卡，（在60ch/100 ms時可連續采集數據約10天，60ch/1s時可連續采集約3個月）
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采集器特點
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MW100本體帶有開/關按鈕，既可獨立采集數據，也可以利用以太網和瀏覽器軟件在PC上進行實時監視，通過網絡采集數據，MW100r數據輸入輸出范圍廣，可支持高速測量，同時具有很強的抗干擾性，即使在惡劣環境中也可以完成測量工作。
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采集時間分辨率
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10ms~500ms
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電源參數
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通道數
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標配40通道（選配最大可達1000個）
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電流量程
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0-1A,0-10A,0-20A以上
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通道間連接方式
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通道間可以并聯以增大電流
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老化電流精度
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老化測試時輸入電流應控制在額定電流的±3%
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測試電流精度
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光學測試時輸入電流應控制在額定電流的±0.5%
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電壓表參數
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電壓量程
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0-150V(選配可達40V)
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分辨率
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0.1V
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設備特點
濕度顯示：能夠做到Ts,Ta溫度及濕度實時顯示功能。
TS制：能夠精準控制每一顆LED燈珠的TS。
TA制：能夠精準控制周圍空氣溫度Ta，并滿足LM-80的TA不低于TS-5℃
溫度測試：在廠家指定位置TS的情況下，能夠對每一顆LED燈珠的殼溫度進行在線實時監測。
遠程監測：能夠對每一顆LED燈珠的TS,TA進行在線實時監測，并且傳輸給遠程電腦，做到數據同步和備份。
電流控制：每一顆LED燈珠由獨立恒流電流源供電，可單獨控制輸出電流值，并滿足LM-80的±3%的偏差要求。
時間采集：對于每一組LED燈珠被點亮的老化時間精確采集，并且符合LM-80老化時間±0.5%的偏差要求。